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對封裝后的芯片顆粒進(jìn)行高低溫與大電流環(huán)境下的老化測試，在測試中對顆粒內(nèi)部缺陷進(jìn)行修復(fù)。融合高低溫、老化沖擊、功能測試等各項測試工藝，并對檢測出的不良進(jìn)行軟件算法修復(fù)，可以取代多道化統(tǒng)的品圓及封裝老化測試流程，實現(xiàn)高吞吐容量的電學(xué)性能與可靠性驗證要求。